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手动探针台:通常用于没有很多待测器件需要测量或数据需要收集的情况下。它灵活、可变性高,易于配置环境和转换测试环境。半自动探针台:同样适用于待测器件数量不多的情况,但相较于手动探针台,其操作更为简单。全自动探针台:可以在短时间内完成大量的测试操作,通常用于芯片量产或有一些特殊要求如处理薄晶圆、封装基板等的测试场景。
手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个稳定的测试平台。探针台能够吸附多种规格的芯片,并提供多个可调测试针以及探针座,配合测量仪器可以完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数的检测。因此,探针台非常适用于对芯片进行科研分析、抽查测试等用途。
按测试样品分类: 晶圆测试探针台:用于测试晶圆上的半导体芯片。 LED测试探针台:专门用于测试LED器件。 功率器件测试探针台:适用于测试功率半导体器件。 MEMS测试探针台:用于测试微机电系统器件。 PCB测试探针台:用于测试印刷电路板上的电子器件。 液晶面板测试探针台:专门用于测试液晶面板。
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